طلب اقتباس |
منزل المنتجاتsemiconductor hall effect tester
جميع المنتجات

رقاقة فوق المحور GaN

(65)

رقاقة سيك Epitaxial

(39)

ويفر GaAs Epi

(15)

ركائز الماس CVD

(15)

نظام التلدين الحراري السريع

(2)

اختبار استشعار تأثير القاعة

(3)

رقاقة نيتريد الألومنيوم

(21)

رقاقة ليزر ديود

(10)

كريستال كربيد السيليكون

(12)

ويفر Ga2O3

(13)

رقاقة السيليكون

(26)

ويفر ياقوت

(19)

ركائز الياقوت المنقوشة

(10)

حامل بسكويت تفلون

(1)

آلة تقطيع الويفر

(5)
شهادة
الصين Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. الشهادات
ابن دردش الآن

semiconductor hall effect tester التصنيع عبر الإنترنت

(3)
يشتري تركيز حاملة تأثير قاعة اختبار الاستشعار صناعة أشباه الموصلات الانترنت الشركة المصنعة

تركيز حاملة تأثير قاعة اختبار الاستشعار صناعة أشباه الموصلات
اتصل

JDEQ-0001 Carrier Concentration Hall Effect Tester Semiconductor Industry Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... قراءة المزيد
2022-09-22 16:41:40
يشتري مواد أشباه الموصلات قياس تركيز جهاز استشعار تأثير القاعة الانترنت الشركة المصنعة

مواد أشباه الموصلات قياس تركيز جهاز استشعار تأثير القاعة
اتصل

Semiconductor Materials Hall Effect Tester Carrier Concentration Measurement Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... قراءة المزيد
2022-09-22 16:41:29
يشتري معامل هول تأثير هول قياس مقاومة استشعار الحركة الانترنت الشركة المصنعة

معامل هول تأثير هول قياس مقاومة استشعار الحركة
اتصل

Hall Coefficient Hall Effect Sensor Tester mobility resistivity measurement Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... قراءة المزيد
2022-10-09 09:55:01
Page 1 of 1
حول

رقاقة فوق المحور GaN

2 بوصة GaN Epitaxial Wafer C Face Fe Doped SI Type Free Standing

ركائز Fe Doped GaN المقاومة> 10 · سم أجهزة RF

ركائز SI-GaN قائمة بذاتها 2 بوصة

رقاقة سيك Epitaxial

رقاقة شطف SiC Epitaxial 150.0 mm + 0mm / -0.2mm 350.0um ± 25.0 um

4H كريستال فورم SiC Epitaxial رقاقة ويفر حافة شطف 350.0um ± 25.0um

رقاقة كريستال أحادية SiC Epitaxial Wafer C-Face ملمع بصري Si-Face CMP

ترك رسالة

سياسة الخصوصية | الصين جيّد جودة رقاقة فوق المحور GaN مزود. © 2023 - 2026 Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.. All Rights Reserved.